

產(chǎn)品介紹
BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀是丹東百特儀器有限公司2024年最新推出的表征納米體系特性的頂級(jí)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動(dòng)態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS、靜態(tài)光散射SLS以及透射光檢測(cè)技術(shù),可以準(zhǔn)確地檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布、Zeta電位、高分子和蛋白體系的分子量、液體的折射率以及顆粒物濃度等參數(shù),可廣泛應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究、質(zhì)量分析和質(zhì)量控制。
基本性能指標(biāo)
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粒徑范圍 |
0.3 nm - 15 μm* |
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樣品量 |
最小3μL,常規(guī)1ml(可訂制其它容量)* |
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檢測(cè)角度 |
173°+90°+11.2°(可對(duì)應(yīng)高濃度粒度和低濃度粒度) |
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樣品濃度 |
≤40%(W/V)* |
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粒徑算法 |
Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
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Zeta范圍 |
無實(shí)際限制 |
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原理 |
相位分析光散射PALS |
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電泳遷移率范圍 |
> ±20 μ.cm/V.s |
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電導(dǎo)率范圍 |
0 - ≥270 mS/cm * |
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Zeta測(cè)試粒徑范圍 |
1 nm – >120 μm * |
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粒徑范圍 |
1 μm - 50 μm * |
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檢測(cè)角度 |
0°(PD檢測(cè)器) |
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樣品量 |
1 – 3 ml |
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分子量范圍 |
342 Da – 2 x 107 Da * |
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測(cè)試能力 |
均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?、?fù)數(shù)粘度 |
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溫度趨勢(shì) |
粒度與Zeta電位隨溫度變化趨勢(shì),自動(dòng)檢測(cè)溫度轉(zhuǎn)變點(diǎn)Tm |
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時(shí)間趨勢(shì) |
粒度與Zeta電位隨時(shí)間的變化趨勢(shì) |
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pH值趨勢(shì) |
粒度與Zeta電位隨pH值的變化趨勢(shì) * |
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檢測(cè)方法 |
LEDLS |
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測(cè)試能力 |
體積分?jǐn)?shù)和數(shù)量濃度 |
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折射率范圍與精度 |
1.2 - 1.6,液體,精度優(yōu)于0.1% |
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檢測(cè)方法 |
楔形池樣品折射法(無需示蹤粒子) |
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檢測(cè)角度 |
0°(CMOS檢測(cè)器) |
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樣品量 |
380 μL – 1 ml |
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溫控范圍 |
-15°C - 120°C |
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冷凝控制 |
干燥空氣或者氮?dú)?/p> |
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激光器 |
高性能固體激光器,波長(zhǎng)671nm(不同波長(zhǎng)激光器可選) |
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相關(guān)器 |
快、中、慢多模式,最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動(dòng)態(tài)線性范圍 |
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檢測(cè)器 |
APD+PD+CMOS |
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光強(qiáng)控制 |
0.0001% -100%,自動(dòng)或手動(dòng)控制 |
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* 依賴于樣品和選件 |
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檢測(cè)參數(shù)
動(dòng)態(tài)光散射
●流體力學(xué)尺寸 Dh
●分布系數(shù) PD.I
●擴(kuò)散系數(shù) D
●顆粒間相互作用力因子 kd
●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布
●計(jì)算分子量
●溶液粘度和折射率
●流變學(xué)信息G*,G‘,G“,η*,J
電泳光散射
●Zeta電位及其分布
●帶電顆粒的電泳遷移率
透射
●透射濁度
●顆粒物濃度
●液體折射率
●沉降法粒度和粒度分布測(cè)試
趨勢(shì)測(cè)試
● Zeta電位和粒徑的pH滴定
●粒徑和Zeta電位的溫度趨勢(shì)測(cè)試
靜態(tài)光散射
●絕對(duì)分子量Mn、Mw、Mz
●分子量分布
●第二維利系數(shù)A2
選配件
●動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式




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