BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀

發(fā)布時間：2025-12-15 15:02:12瀏覽次數(shù)：次

產(chǎn)品介紹
BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀是BeNano90+BeNano 180+BeNano Zeta三合一的頂級光學(xué)檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向+90°動態(tài)光散射 DLS、電泳光散射ELS和靜態(tài)光散射技術(shù)SLS，可以準(zhǔn)確地檢測顆粒的粒徑及粒徑分布、Zeta電位、高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù)，可廣泛應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。
基本性能指標(biāo)
1、粒徑檢測

粒徑范圍	0.3 nm - 15 μm*
樣品量	最小3μL，常規(guī)1ml（可訂制其它容量）*
檢測角度	173°+90°+11.2°（可對應(yīng)高濃度粒度和低濃度粒度）
樣品濃度	≤40%（W/V）*
粒徑算法	Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

2、Zate電位測試

Zeta范圍	無實際限制
原理	相位分析光散射PALS
電泳遷移率范圍	> ±20 μ.cm/V.s
電導(dǎo)率范圍	0 - ≥270 mS/cm *
Zeta測試粒徑范圍	1 nm – >120 μm *

3、分子量測試

分子量范圍

342 Da – 2 x 107 Da *

4、微流變測試

測試能力	均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?、?fù)數(shù)粘度

5、趨勢測試

溫度趨勢	粒度與Zeta電位隨溫度變化趨勢，自動檢測溫度轉(zhuǎn)變點Tm
時間趨勢	粒度與Zeta電位隨時間的變化趨勢
pH值趨勢	粒度與Zeta電位隨pH值的變化趨勢 *

6、系統(tǒng)參數(shù)

溫控范圍	-15°C - 120°C
冷凝控制	干燥空氣或者氮氣
激光器	高性能固體激光器，波長671nm（不同波長激光器可選）
相關(guān)器	快、中、慢多模式，最快25 ns采樣，最多 4000通道，1011動態(tài)線性范圍
檢測器	APD
光強控制	0.0001% -100%，自動或手動控制
*依賴于樣品和選件

檢測參數(shù)
動態(tài)光散射
●流體力學(xué)尺寸 Dh
●分布系數(shù) PD.I
●擴散系數(shù) D
●顆粒間相互作用力因子 kd
●顆粒體系的光強、體積、面積和數(shù)量分布
●計算分子量
●溶液粘度和折射率
●流變學(xué)信息G*，G‘，G“，η*，J
電泳光散射
●Zeta電位及其分布
●帶電顆粒的電泳遷移率
趨勢測試
● Zeta電位和粒徑的pH滴定
●粒徑和Zeta電位的溫度趨勢測試
靜態(tài)光散射
●絕對分子量Mn、Mw、Mz
●分子量分布
●第二維利系數(shù)A2
選配件
●動靜態(tài)流動模式
BeNano動靜態(tài)流動模式（Flow Mode）是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端（FFF、GPC/SEC）相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進(jìn)行分離，依次流出。通過檢測每個流出組分的動態(tài)光散射信號和靜態(tài)光散射號，并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號，得到高分辨率且不依賴于計算模型的粒徑分布、分子量分布信息。

● BAT-1自動滴定儀
樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強烈的依賴性，尤其是環(huán)境pH，不但影響Zeta電位的大小，而且會影響顆粒體系的帶電符號。BAT-1自動滴定儀與BeNano系列連用，內(nèi)置三個高精度滴定泵和一個樣品輸送泵，具有樣品攪拌能力，可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進(jìn)行自動化的酸堿滴定測試，具有測試效率高、精確定量、重復(fù)性好、結(jié)果不依賴于操作者等特點。由于盛放樣品的樣品管可拋棄，避免了交叉污染的風(fēng)險。

● BeScan穩(wěn)定性分析儀
BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備，通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩(wěn)定性變化，并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS，粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度，能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化，從而極大的節(jié)約檢測時間，縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用，通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。